Polytec TMS-1200 TopMap µ.Lab
Mikroskop Tabanlı Sistem

Nanometre Çözünürlüklü Mikroskop Sistemi

TMS-1200 TopMap µ.Lab ile mikroyapıların yüzeylerini çok yüksek yatay çözünürlükle karakterize edebilirsiniz. Optik profilometre hassas ve hassas yapılı dokularda, düzlemsellik, dalgalanma ve pürüzlülük gibi parametreleri temassız olarak belirler.

Polytec akıllı yüzey tarama teknolojisi, farklı yansıtma özelliklerine sahip yüzey alanlarını da ölçebilmektedir. İsteğe bağlı olarak, motorize şaryo ile X-Y ekseninde görüntüler birleştirilir (Stitching).

• Nm çözünürlüğü ile 3D topograyfa ölçümü ve yüzey pürüzlülüğü tayinPürüzlü yüzeyler için mükemmel yatay çözünürlük
• Akıllı yüzey tarama teknolojisi yüksek kontrastlı yüzeylerde ölçüm olanağı sağlar
• TMS yazılımı ile bileşen tanıma özelliği
• 2 boyutlu ve 3 boyutlu video kayıt
• Mikroyapılar ve hassas yüzeylerin temassız ölçümü
• Tribolojik ölçüm