Polytec TopMap Micro.View / Micro.View + Profilometre 

TopMap Micro. View +

TopMap Micro.View +, yeni nesil optik yüzey ölçüm cihazıdır. Modülerlik için tasarlanan bu kapsamlı iş istasyonu, özelleştirilmiş ve uygulamalara özel konfigürasyonlar için uygun yapıya sahiptir. Micro.View +, yüzeyin pürüzlülüğünü, dokusunu ve mikro yapıdaki topografyasını en ayrıntılı şekilde ölçerek detaylı analizini gerçekleştirir.

En iyi görselleştirmeler ve kusurların ayrıntılı dokümantasyonu gibi genişletilmiş analizler için 3D verilerini renk bilgileriyle birleştirirerek, ölçüm sonucunun anlaşılır ve analizin kolay yapılmasını sağlar. Yüksek çözünürlüklü 5 MP kamera ile tasarlanmış yüzeylerin en iyi derecede 3D veri görselleştirmesini gerçekleştirir.

Kodlanmış ve motorlu taret, hedefler arasında sorunsuz bir geçiş sağlar. Micro.View +, yüzeyi her koşulda odakta tutan en yeni Focus Finder ve Focus Tracker özelliklerine sahiptir. Tamamen motorlu örnek konumlandırma aşamaları, ölçüm sonuçlarını birleştirmeye ve otomasyona kolaylık sağlamaktadır.

• Beyaz ışık interferometre yöntemi kullanarak nm(nanometre) hassasiyetinde ölçüm 
• CST Sürekli Tarama Teknolojisi ile 100 mm z ölçüm aralığında ölçüm 
• Focus Finder ve Focus Tracker ile otomasyon 
• Motorlu X, Y, Z, uç / eğim ve tarete (tabla) sahiptir.
• Yüzeydeki hataların kapsamlı ve kolay analizi, dokümantasyonu için renk bilgisi seçeneği mevcuttur.
• Modüler, uygulamaya özel konfigürasyonları mevcuttur

Yeni Nesil Optik Yüzey Ölçüm Sistemleri

TopMap Micro. View

TopMap Micro.View, kullanımı kolay ve kompakt bir optik yüzey ölçüm cihazıdır. Yüksek performansı ve düşük maliyeti ile yüzey ölçüm teknolojisinde güvenilir kaliteyi kullanıcıya ulaşılabilir olarak sunar.

Genişletilmiş 100 mm Z ölçüm aralığı ve CST Sürekli Tarama Teknolojisi ile Micro.View, nm çözünürlükte karmaşık topografileri ölçer. Kolay kuruluma ve ölçümü kolaylaştıran, hızlandıran akıllı odaklanma özelliğine sahiptir.

Gürültülü, zorlu üretim ortamlarında bile güvenilir ve doğru ölçüm sonuçları sağlayan opsiyonel ECT Çevresel Kompanzasyon Teknolojisi ile çalışmalarınıza yardımcı olur!

Micro.View, hem üretim, hem de araştırma sürecinde hassas mühendislik yüzeylerini inceleyen kalite kontrol cihazıdır.

• Kompakt yüzeylerde ölçüm
• Temassız ölçüm teknolojisi ile 3D topografya ve yüzey pürüzlülüğü ölçümü
• CST Sürekli Tarama Teknolojisi ile 100 mm z ölçüm aralığında ölçüm
• Yüksek çözünürlük
• Uygulamalara özel farklı objektif seçeneği

Temassız pürüzlülük ölçümü

Nanometre çözünürlükte mikro yapı topografya analizi

Tabakalarda detaylı topografya analizi

Temassız kaplanmış yüzeylerin muayenesi

Merhabalar ben Özgür!

Gayretli bir Ürün Müdürünü gururlandıran nedir? Kuaför bu ürün lansmanı için neden gereklidir? Deneyimsiz bir kullanıcı gerçekten karmaşık ölçümler yapabilir mi? PolyXpert Özgür Tan ile neler konuşulduğunu öğrenmek için tıklayınız!

Çarpışma testi...

Sizlerin güvenini kazanabilmek için ürünlerimizi gerçekten zorlu ortamlarda test ediyoruz. Çarpışma testi için takipte kalın!

Sarsıyoruz...

Hassasiyet, optik yüzey ölçüm sistemlerimizin DNA'sıdır. En zorlu ortamlarda bile performans sağlamak için sistemlerimizi zorlu testlerden geçiriyoruz. 

Sıcaklık dayanıklılığı...

Optik yüzey ölçüm sistemlerimizde 50 yılı aşkın deneyimimizle, büyükannelerimizin en iyi tariflerini test ettik. Çevre test kabinlerinde sıcaklığa dayanıklılık, bu tür büyüleyici sonuçlar ve yüksek kaliteli 3D ölçüm verileri elde etmek sihirli bir dokunuş ve sabır gerektirir.