Opticline C serisi şaft ölçüm sistemleri, 1 μm'den itibaren maksimum ölçüm tekrarlanabilirliği sunar. Yüksek hassasiyetli C ekseni veya çoklu sensör sistemi gibi farklı konfigürasyonlarda performans kapasitesi artırılabilir. Gereksinimlerinize uyacak şekilde özelleştirilmiştir. Bu nedenle cihazlar en yüksek seviyede esneklik, doğruluk ve stabilite sunar.