Hommel Etamic Opticline C Optik Şaft Ölçüm Cihazları

Opticline C serisi şaft ölçüm sistemleri, 1 μm'den itibaren maksimum ölçüm tekrarlanabilirliği sunar. Yüksek hassasiyetli C ekseni veya çoklu sensör sistemi gibi farklı konfigürasyonlarda performans kapasitesi artırılabilir. Gereksinimlerinize uyacak şekilde özelleştirilmiştir. Bu nedenle cihazlar en yüksek seviyede esneklik, doğruluk ve stabilite sunar.

• Yüksek hassasiyette ve μm derecesinde saniyeler içerisinde ölçüm yapma kabiliyeti mevcuttur.
• Çift yönlü ölçüm özelliğine sahip bireysel kamerası ile 140 mm’ye kadar olan çapları çözünürlükten veya kaliteden ödün vermeden ölçebilir.
• Üretimde güvenilir kullanım için kendi kendini izleme fonksiyonları ile beraber az bakım gerektiren sağlam bir ölçüm sistemidir.